錫須觀察測量

錫須是在純錫或錫合金鍍層表面自發生長出來的一種細長形狀的錫的結晶。在電子線路中，錫須會引起短路，降低電子器件的可靠性，甚至引發電子器件故障或失效。

應用范圍：

電子元器件、汽車電子、醫療、通訊、手機、電腦、電氣等。

測試步驟：

對樣品進行表面鍍鉑金，放入掃描電子顯微鏡樣品室中，對客戶要求的測試位置進行放大觀察并測量。

錫須觀察是通過環境試驗進行加速模擬，目前做得最多的方法是以下幾種：
1，高溫高濕時錫須生長曲線
2，冷熱沖擊時錫須生長曲線
3，室溫時錫須生長曲線
4，施加縱向壓力時錫須生長曲線

1.擁有眾多先進儀器設備并通過CMA/CNAS資質認可，測試數據準確可靠，檢測報告具有國際公信力。

2.科學的實驗室信息管理系統，保障每個服務環節的高效運轉。

3.技術專家團隊實踐經驗豐富，可提供專業、迅速、全面的一站式服務。

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