綜合環(huán)境檢測(cè)

綜合環(huán)境檢測(cè)是指對(duì)產(chǎn)品在多種環(huán)境因素同時(shí)作用下的綜合性能進(jìn)行檢測(cè)。常用的綜合環(huán)境檢測(cè)主要有溫度與低氣壓綜合試驗(yàn)，溫度與機(jī)械環(huán)境綜合試驗(yàn)和溫度等。產(chǎn)品在實(shí)際使用中會(huì)經(jīng)受到各種環(huán)境因素的作用，從而使產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)和缺陷、在各種自然環(huán)境和誘發(fā)環(huán)境因素的作用下發(fā)生故障。

由于綜合環(huán)境檢測(cè)能更真實(shí)的反映產(chǎn)品實(shí)際使用環(huán)境、更能實(shí)際的反映出產(chǎn)品在現(xiàn)場(chǎng)使用中的性能、更能暴露產(chǎn)品的缺陷，所以綜合環(huán)境對(duì)產(chǎn)品所造成的影響，常常是單項(xiàng)環(huán)境因素試驗(yàn)代替不了的。

綜合環(huán)境檢測(cè)目的就是在經(jīng)濟(jì)和技術(shù)條件允許的情況下，盡可能在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)模擬電子產(chǎn)品在運(yùn)輸、存儲(chǔ)和使用過程中經(jīng)常受到的綜合環(huán)境應(yīng)力及其影響，反映產(chǎn)品實(shí)際使用環(huán)境，暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。

GB/5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)檢定方法(溫度試驗(yàn)設(shè)備)
GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法)
GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法)
GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(濕熱試驗(yàn)方法)
GJB150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法(高溫試驗(yàn))
GB T 28046.4-2011 道路車輛 電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)
ISO 16750-4, GMW 3172, VW80101, GB/T 10485等。

1.擁有眾多先進(jìn)儀器設(shè)備并通過CMA/CNAS資質(zhì)認(rèn)可，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠，檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力。

2.科學(xué)的實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)，保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效運(yùn)轉(zhuǎn)。

3.技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)豐富，可提供專業(yè)、迅速、全面的一站式服務(wù)。

4.服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布全球，眾多一線品牌指定合作實(shí)驗(yàn)室。

銷售：出具檢測(cè)報(bào)告，提成產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力；

研發(fā)：縮短研發(fā)周期，降低研發(fā)成本；

質(zhì)量：判定原料質(zhì)量，減少生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)；

診斷：找出問題根源，改善產(chǎn)品質(zhì)量；

科研：定制完整方案，提供原始數(shù)據(jù)；

競(jìng)標(biāo)：報(bào)告認(rèn)可度高，提高競(jìng)標(biāo)成功率；