微觀形貌分析

微觀形貌分析是通過光學顯微鏡、掃描電鏡等手段對材料表面或內部的形貌進行高倍觀察和測量的技術。該技術可以幫助研究人員了解材料的微觀結構和形貌特征，進而分析其物理、化學和機械性能。
在微觀形貌分析中，研究人員通常關注材料的表面粗糙度、晶粒大小、相組成、微觀裂紋和缺陷等方面的特征。這些特征對材料的力學性能、耐磨性、耐腐蝕性、電學性能等方面具有重要的影響。
中科檢測可提供微觀形貌分析服務，可以實現對材料表面的三維顯微結構重建，定量和定性檢測表面的各種特征，如粗糙度、疏密程度、平整度等，以及表面的微觀形貌。

SEM掃描電子顯微鏡、FIB-SEM聚焦離子束掃描電子顯微鏡、STM掃描隧道顯微鏡、AFM原子力顯微鏡、ESEM環境掃描電子顯微鏡、FESEM場發射掃描電子顯微鏡、TEM透射電子顯微鏡、ACTEM球差校正透射電子顯微鏡

GB/T 36422-2018 化學纖維 微觀形貌及直徑的測定 掃描電鏡法
GB/T 16840.6-2012 電氣火災痕跡物證技術鑒定方法 第6部分：SEM微觀形貌分析法

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