X射線熒光光譜儀測試

X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究。

1、涂層成分和厚度分析 

X射線熒光光譜儀可以準確檢測多層，即多層合金的厚度和成分、上下元素的重復鍍層、輕元素和有機物的鍍層和滲透層。 

 2、環境檢測解決方案  

X射線熒光光譜儀可以檢測多種重金屬和有害元素，檢測的檢出限可以達到1ppm以下。  

3、全要素分析 

X射線熒光光譜儀可以分析各種合金、礦石、土壤、珠寶等的元素組成，可以檢測各種常見的貴金屬和稀土。適用于廣泛的行業，無論是電鍍、5G通訊、新能源、五金建材、半導體、地礦、珠寶、汽車，還是高精密電子、芯片、航空航天等行業。

GB/T 41497-2022 釩鐵 釩、硅、磷、錳、鋁、鐵含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法 

 GB/T 3286.11-2022 石灰石及白云石化學分析方法 第11部分：氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法) 

 GB/T 6609.30-2022 氧化鋁化學分析方法和物理性能測定方法 第30部分：微量元素含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法 

 GB/T 40915-2021 X射線熒光光譜法測定鈉鈣硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量 

GB/T 5687.13-2021 鉻鐵 鉻、硅、錳、鈦、釩和鐵含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)

 GB/T 40312-2021 磷鐵 磷、硅、錳和鈦含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法) 

 GB/T 40311-2021 釩渣 多元素的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法) 

 GB/T 40110-2021 表面化學分析 全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定硅片表面元素污染 

 GB/T 39560.301-2020 電子電氣產品中某些物質的測定 第3-1部分：X射線熒光光譜法篩選鉛、汞、鎘、總鉻和總溴 

GB/T 8151.22-2020 鋅精礦化學分析方法 第22部分：鋅、銅、鉛、鐵、鋁、鈣和鎂含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法

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