
晶體結(jié)構(gòu)分析
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地址:廣州市天河區(qū)興科路368號(hào)(天河實(shí)驗(yàn)室)
廣州市黃埔區(qū)科學(xué)城蓮花硯路8號(hào)(黃埔實(shí)驗(yàn)室)
郵箱:atc@gic.ac.cn
晶體結(jié)構(gòu) 分析介紹
晶體結(jié)構(gòu)分析是研究晶體內(nèi)部原子或分子的排列方式的一種方法。通過(guò)對(duì)晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析,可以了解晶體的物理性質(zhì)、化學(xué)性質(zhì)和穩(wěn)定性等。晶體結(jié)構(gòu)分析的方法有多種,包括X射線(xiàn)衍射分析、電子衍射和中子衍射分析等。中科檢測(cè)開(kāi)展晶體結(jié)構(gòu)分析服務(wù),具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。
晶體結(jié)構(gòu) 分析范圍
二氧化錳,鋁,鎢酸錳,銅粉,氯化鈉,螢石,金屬,石膏,鍍層,氧化鋯,mof,金剛石,聚合物,白云石,粉末固體制劑,負(fù)膨脹材料,金屬間化合物,磁性羥基磷灰石,礦物,聚丙烯腈基碳纖維石墨化等。
晶體結(jié)構(gòu) 分析方法
按所用試樣的不同,晶體結(jié)構(gòu)分析有多晶體分析和單晶體分析兩類(lèi);按所用手段的差異,晶體結(jié)構(gòu)分析又有X 射線(xiàn)衍射分析、電子衍射和電子顯微分析、中子衍射分析三種。
服務(wù)優(yōu)勢(shì)
1.擁有眾多先進(jìn)儀器設(shè)備并通過(guò)CMA/CNAS資質(zhì)認(rèn)可,測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠,檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力。
2.科學(xué)的實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng),保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效運(yùn)轉(zhuǎn)。
3.技術(shù)專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)豐富,可提供專(zhuān)業(yè)、迅速、全面的一站式服務(wù)。
4.服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布全球,眾多一線(xiàn)品牌指定合作實(shí)驗(yàn)室。
報(bào)告用途
產(chǎn)品質(zhì)控:國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)銷(xiāo)售,資質(zhì)認(rèn)證等等;
電商品控:產(chǎn)品進(jìn)入超市或賣(mài)場(chǎng),網(wǎng)站商城等;
貿(mào)易活動(dòng):政府部門(mén)、事業(yè)單位招投標(biāo)、申請(qǐng)補(bǔ)助等;
工廠(chǎng)評(píng)估:工商抽檢或市場(chǎng)監(jiān)督等;
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CPSIA檢測(cè)中科檢測(cè)CPSIA檢測(cè)服務(wù)可以幫助核查產(chǎn)品是否符合CPSIA標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試要求,從而降低產(chǎn)品的出口風(fēng)險(xiǎn),贏(yíng)得市場(chǎng)信賴(lài)。
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TSCA檢測(cè)中科檢測(cè)具備TSCA法規(guī)解讀,針對(duì)原材料和電子電氣成品,能為客戶(hù)提供TSCA檢測(cè)和風(fēng)險(xiǎn)物質(zhì)評(píng)估,可評(píng)估整機(jī)產(chǎn)品法規(guī)定義內(nèi)的風(fēng)險(xiǎn)材料,并給予一站式的測(cè)試方案,
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掃描電鏡分析掃描電鏡分析是一種應(yīng)用廣泛的電子顯微鏡技術(shù),用于觀(guān)察和分析材料的表面和微觀(guān)結(jié)構(gòu)。中科檢測(cè)開(kāi)展掃描電鏡分析。
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DSC差示掃描量熱分析差示掃描量熱分析是一種熱分析技術(shù),用于測(cè)量材料在受控溫度條件下的熱量變化。