光伏組件pid測試

光伏組件由高效晶體硅太陽能電池片、超白布紋鋼化玻璃、eva(ethylene vinyl acetate copolymer，乙烯-醋酸乙烯共聚物)膜層、透明tpt(tedlar/pet/tedlar，聚氟乙烯復合膜)背板以及鋁合金邊框組成。光伏發電系統的系統電壓對光伏組件存在持續的“電位誘發衰減(potential induced degradation，pid)”效應，高效晶體硅太陽能電池片通過封裝材料對光伏組件的邊框形成回路造成漏電流，導致光伏組件發電性能下降。因此，對待出廠的光伏組件進行pid測試具有重要意義。

PID測試有兩種加速老化的方法：
1）在特定的溫度、濕度下，在組件玻璃表面覆蓋鋁箔、銅箔或者濕布，在組件的輸出端和表面覆蓋物之間施加電壓一定的時間。
2）在85%濕度85℃或者是60℃或85℃的環境下將-1000V直流電施加在組件輸出端和鋁框上48~96小時。

PID 測試標準引自 IEC 62804 （Draft） 根據IEC61730-2 MST 01進行外觀檢測；
根據IEC61215第二版進行最大功率測試；
根據IEC61215第二版條目10.15進行濕漏電流測試；
如果組件有裸露的導電部位，則要根據IEC61730-2 MST13進行接地連續性測試

1.國科控股旗下獨立第三方檢驗檢測機構。

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